Технические характеристики

ПроизводительPerkinElmer
 
Спектральный диапазонLambda650: 190– 900 нм
Lambda750: 190–3300 нм
Разрешение0,17 нм – УФ/Вид.
Рассеянный свет< 0,0001% T @220 нм
Фотометрический диапазон6 А
Фотометрическая точность± 0,0012 А
Точность установки длины волны± 0,15 нм

УФ/Вид./БлИК - СПЕКТРОФОТОМЕТРЫ НАУЧНОГО КЛАССА LAMBDA 650 / 750


Спектрофотометры Lambda 650 и 750 – двухлучевые сканирующие спектрофотометры с двойным монохроматором для решения широкого круга задач любой сложности. Эти приборы предназначены для исследовательских лабораторий и лабораторий контроля качества, где требуется высокая точность результатов.
Применение революционной технологии сменных модулей для различных типов спектрального анализа дает возможность исследователям упростить и ускорить анализ сложных образцов, легко перейти от измерений на пропускание к измерениям на отражение, а также к исследованиям с помощью интегрирующих сфер различного диаметра без предварительной юстировки прибора и приставок.

КЛЮЧЕВЫЕ ОСОБЕННОСТИ СПЕКТРОФОТОМЕТРОВ

  • Модульная конструкция и два отделения для образцов – позволяет увеличить производительность лаборатории при анализе сложных образцов, требующих исследований не только на пропускание, но и с применением различных приставок;
  • Отличные фотометрическая точность и воспроизводимость измерений, низкий уровень рассеянного света – позволяют проводить анализ сложных образцов;
  • Четырехсегментный прерыватель луча (чоппер) – повышает точность анализа, снимает эффект «памяти» детектора;

ОСНОВНЫЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ МОДУЛИ

  • Модуль для анализа на пропускание – для проведения классических анализов на пропускание как жидких образцов в кюветах, так и твердых образцов;
  • Модуль URA – универсальная приставка для анализа на отражение с переменным углом (от 8° до 70°);
  • Интегрирующая сфера (60 мм) – анализ рассеивающих образцов, образцов с переменной толщиной, анализ диффузного отражения порошков, твердых и жидких образцов;
  • Модуль GPOB – оптическая скамья общего назначения для анализа сложных оптических образцов с помощью разнообразных приставок;